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場發射穿透式電子顯微鏡 « 校內貴重儀器 « 國立中興大學研發處

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日期：2025-05-26
場發射穿透式電子顯微鏡(FE-TEM)主要規格 1.場發射穿透式電子顯微鏡(FE-TEM) ‧加速電壓：200KV ‧放大倍率：X 50 to 1500K ‧解像度：Point Resoltion：≦0.23nm；Lattice Resoltion：≦0.1nm ‧聚焦束繞射(CBED)：Convergent Angle：1.5~20 mrad...看更多

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