穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron Microscopy:TEM)

穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron Microscopy:TEM)

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日期:2024-04-20
穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron Microscopy:TEM) 國立彰化師範大學物理所陳建淼研究生/國立彰化師範大學物理學系洪連輝教授責任編輯 A.TEM簡介 自1930年代第一台商用電子顯微鏡於英國建立以來,由於影像解析度受限於所供輸電子能量,隨著高壓設備 ......看更多