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掃描式穿隧電子顯微鏡- 維基百科，自由的百科全書 - Wikipedia
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日期：2025-05-16
掃描式穿隧電子顯微鏡（英語:scanning tunneling microscope，縮寫為STM），是
一種利用量子理論中的穿隧效應探測物質表面結構的儀器。它於1981年由格爾德·賓
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