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SEM (Scanning Electron Microscopy) 掃描式電子顯微鏡

SEM (Scanning Electron Microscopy) 掃描式電子顯微鏡

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日期：2025-05-06
電子槍包括燈絲(陰極，作為電子源)和加速電子用的正極(加速至3-40KeV )。 ... 為 掃描式電子顯微鏡主要成像之裝置，主要構造為一閃爍器(Scintillator)，可將撞擊其 上 ......看更多

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