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掃瞄式電子顯微鏡(SEM)

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日期：2025-10-15
號為JSM-6500F。其主要構造示意圖如圖2. 掃瞄式電子顯微鏡主要是來觀察物體. 的 表面型態，其試片製作較簡單，解析度. 可達奈米尺度且景深長，在觀察材料表面....看更多

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