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穿透式電子顯微鏡TEM

穿透式電子顯微鏡TEM

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日期：2025-05-28
高分辨率：已增進到廠家保證最佳解像能為點與點間0.18 nm、線與線間. 0.14nm。 美國於1983年成立國家電子顯微鏡中心， ......看更多

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