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高解析場發射掃描式電子顯微鏡 - 國立成功大學

高解析場發射掃描式電子顯微鏡 - 國立成功大學

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日期：2025-06-24
本儀器由掃描式電子顯微鏡(FE-SEM)與聚焦式離子束顯微鏡(FIB)及能量分散式光譜分析儀(EDS)所組成。...看更多

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