高解析度掃瞄式電子顯微鏡 - 國立成功大學

高解析度掃瞄式電子顯微鏡 - 國立成功大學

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日期:2025-10-14
本儀器由掃描式電子顯微鏡(FE-SEM)與聚焦式離子束顯微鏡(FIB)及能量分散式光譜 ... 本儀器為蔡司公司AURIGA場發射型掃描式電子顯微鏡,並裝設EDS分析系統 ......看更多