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高解析度掃瞄式電子顯微鏡 - 國立成功大學

高解析度掃瞄式電子顯微鏡 - 國立成功大學

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日期：2025-05-24
本儀器為日本Hitachi SU8000 場發射掃描式電子顯微鏡，利用加負壓於金屬尖端上，以強電場將電子吸出尖端而形成很微小的電子束，在極高的真空中操作（~10-10 ......看更多

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