scanning electron microscope 掃瞄式電子顯微鏡

scanning electron microscope 掃瞄式電子顯微鏡

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日期:2025-11-18
SEM結構原理. 電子顯微鏡主要是由電子槍(Electron Gun) 發射出高加速. 電壓之入射電子束,經過一組磁透鏡聚焦(Condenser Lens). 聚焦後,用遮蔽 ......看更多