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日期:2025-06-07
摘要: 在先進的奈米級互補金屬氧化半導體(CMOS)製程下之內嵌式靜態隨機存取
記憶體正遭遇良率危機,此乃是由於增加的製程變異導致惡化的記憶胞之靜態電性 ......