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![第㆔章掃描式電子顯微鏡(SEM)、X 光微區分析(EDS)、掃描探 ...]()
www.ch.ntu.edu.tw1. 掃描式電子顯微鏡. Scanning Electron Microscope. Scanning Electron Microscope（SEM）. 1.前言. SEM 的工作原理和理論構想在1935 年由. 德國Knoll 提出，而 ...瀏覽：387 -
![扫描电子显微镜- 维基百科，自由的百科全书]()
zh.wikipedia.org... electron microscope），简称扫描电镜（SEM）。是一种利用电子束扫描样品表面从而获得样品信息的电子显微镜。它能产生样品表面的高分辨率图像，且图像呈三维，扫描电子显微镜能被用来鉴定样品的表面结构。 .... 參見[编辑]. 穿透式電子顯微鏡 ...瀏覽：485
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