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      顯然一般的光學顯微鏡及電子顯微鏡屬於遠場分析,而前面介紹的掃描式穿隧 ... 奈 米材料,分析奈米元件顯微結構及缺陷,近年來已應用在分析半導體雷射元件上。
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日期:2025-12-17
涉與繞射效應。所以在傳統光學顯微鏡中,僅能獲得約二分之一個量測波長的空間解. 析度,這稱為光學繞射極限。 之後,英國的瑞賴(Lord Rayleigh)針對這一點寫下 ......
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日期:2025-12-18
2014年3月12日 - 其原因是光學顯微鏡存在著不可踰越的繞射極限,而使得分辨率達到極限。從圖一還可以看出,在發明近場光學顯微鏡之前,顯微鏡分辨率有驚人 ......
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日期:2025-12-15
掃描式近場光學顯微鏡. 一 般的光學顯微鏡及電子顯微鏡屬於遠場分析,因受到光波的繞射限制,其解析度僅 ......
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日期:2025-12-16
近場光學顯微鏡(SNOM) ... 所以如何製作更好的近場光學探針,來提高解析度以及有效地控制近場光學探針的 ... 探針與量測物之表面必需具有一小於10nm的距離, 而後再進行掃描的量測,因此 ......
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日期:2025-12-16
l近場掃描光學顯微鏡(NSOM). l掃描穿隧顯微鏡(STM). l掃描式電子顯微鏡(SEM)....
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日期:2025-12-12
在 2003-06-02 23:43:00, 李偉 寫了: 92/5/31聯合報第5版刊登台大『抗煞一號』無害有機化合物成果發表會,附有電子顯微鏡的照片,顯示SARS冠狀病毒在接觸『抗煞一號』化合物後,套膜會很快崩解而失去致病性。...
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日期:2025-12-16
2010年7月16日 - 1986年掃描近場光學顯微鏡(Scanning Near-field Optical Microscopy; ... s-SNOM原理是利用AFM的探針尖端與樣品表面之間的電磁交互作用所 ......