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  微型懸臂式探針卡 - 自動控制工程學系 - 逢甲大學
  
  學. 自動控制工程學系專題製作. 專題論文. 微型懸臂式探針卡. A cantilever mirco probe card. 指導教授：鄒慶福. 學. 生：許明莉. 林昆鼎. 中華民國九十四年六月三十日 ...
  
  2025-05-06
  
  瀏覽：1232
- www.ourgarden.com.tw
  
  探針卡probe card - 我們的家園搜尋
  
  Probe Card for IC Testing 探針卡（probe card）是應用在積體電路（IC）尚未封裝前，對裸晶以探針（probe）做功能測試，篩選出不良品、再進行之後的封裝工程。
  
  2025-05-03
  
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開啟檔案

日期：2025-05-05

圖片引用：http://www.100y.com.tw/productclassM2.asp? ... 探針卡(Probe Card) 應用在積體電路(IC)尚未封裝前，針對裸晶係以探針(Probe)做功能測試，篩選出不 ......

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Collateral Damage: U.S. Covert Operations and the...

日期：2025-05-04

end of World War II, but it was not until 1986 did the size of that war chest make the 1991 attack on the Soviet...

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Whatman Filters & Sample Collection - GE Healthcare Life Sciences

日期：2025-05-06

Whatman, a GE Healthcare brand, offers high-quality products from filter papers to innovative technologies for DNA sample collection & preparation. ... Renowned for quality that spans generations, Whatman products are relied on by scientists everyday in ....

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半導體測試簡介

日期：2025-05-05

Probe Card-針測板. 測試則分成兩個階段. 晶圓測試(Wafer Test). 針對晶圓上的每個晶粒進行針測，使IC 在封裝前先過濾掉電性功能不良的晶片，以降低IC 成品的 ......

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半導體測試簡介

日期：2025-05-02

半導體IC測試基本名詞介紹. • Probe Card:針測板. • Socket:IC測試時承載之基座. • Bin:IC分類之稱呼. • Change Kit:變異製具. • Lead Scan:掃腳機. • Ball Scan:掃球機....

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probe card - 我們的家園搜尋

日期：2025-05-03

【probe card】相關的最新資訊，旺矽科技股份有限公司-Probe CardProbe Card Probe Card for ... LCD 測試專用PROBE CARD 設計製作公司簡介｜產品資訊｜技術服務｜新聞活動｜ ... PowerPoint Presentation - 南台科技大學知識分享平台: …...

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probe card 介紹 - 癮科技書籤

日期：2025-05-05

編輯群作者提供probe card 介紹最新3C科技、遊戲及APP產品等影音介紹各種probe card 簡介,probe card 簡介ppt相關性,Wafer level Vertical probe card.pdf - 專業 ......

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探針接觸特性對於晶圓良率測試之研究The Effect of Probing ...

日期：2025-05-02

2010年11月23日 - characteristic on the test yield during the electric probe test of the wafer. ... 晶圓測試簡介. 晶圓針 ... 片，使探針卡(Probe Card) 的探針可以準確地與晶片上 ..... http://www.swtest.org/swtw_library/2003proc/PDF/S06_02_Stalna....

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