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宜特科技| 原子力顯微鏡(AFM) - iST
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日期：2025-05-09
原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope, AFM）屬於掃描探針顯微技術（Scanning
Probe Microscopy , SPM）的一種。AFM具有原子級解析力，其探針大多由矽製成， ......看更多
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