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掃瞄式近場光學顯微鏡-光電模擬實驗室
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日期：2025-05-21
掃瞄式近場光學顯微鏡(Near-field Scanning Optical Microscopy, NSOM)可偵測在
金屬上具有次波長尺度之表面特徵。其圖與激發表面電漿子之方式所提之原理 ......看更多
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