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閎康科技股份有限公司 > 高解析X光繞射分析儀 (HRXRD) 分析服務
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日期:2025-06-06
Bruker Discover D8 為一多功能高解析X光繞射分析儀, 除了基本的粉末繞射與薄膜低掠角繞射的分析功能外,還擁有三晶(triple-crystal)的高分辨解析器,可以針對單晶的薄膜進行結晶性分析,以及化合物的組成或濃度分析;還可以進行倒晶格空間分佈(RSM)的分析 ......看更多