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日期:2025-06-23
Thermal Emission Microscope 技術原理 THEMOS mini 為簡易, 節省空間之最新電性故障定位設備, 可直接並快速地透過 IC 正面及背面來找出缺陷所在位置. 更可在 IC 未開蓋狀態下先定位出失效點為 IC 本身或封裝問題. 其主要原理乃利用高靈敏度之 InSb detector 偵 ......看更多