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FIB - 國立中正大學貴重儀器中心
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日期：2025-11-06
(9)、TEM試片表面必須平整，不可局部起伏過大，此將嚴重影響切割過程中之保護層
沉積。 (10)、分析測試時，若發現送測 ......看更多
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