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Scanning electron microscopy (SEM)
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日期：2025-10-21
掃描式電子顯微鏡儀器構造(電磁透鏡) ' 0 0 S S S S (1) 電子束大小(probe size) d × i × SEM的解析度約等於最小電子束直徑，電子束大小為: 因此可經由增加聚束鏡(condenser lens)強度或減少工作距離(S)來縮小電子 束的大小，以提高解析度。...看更多
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