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![掃描電子顯微鏡 - 維基百科，自由的百科全書]()
zh.wikipedia.org掃描電子顯微鏡 （ scanning electron microscope ），簡稱 掃描電鏡 （ SEM ）。是一種利用電子束掃描樣品表面從而獲得樣品信息的 電子顯微鏡 。它能產生樣品表面的高解析度圖像，且圖像呈三維，掃描電子顯微鏡能被用來鑒定樣品的表面結構。 掃描 ...瀏覽：515 -
![穿透式電子顯微鏡 - 維基百科，自由的百科全書]()
zh.wikipedia.org穿透式電子顯微鏡 （ 英語 ： Transmission electron microscope ，縮寫 TEM ），簡稱 透射電鏡 ，是把經加速和聚集的 電子 束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產生立體角散射。 散射角 的大小與樣品的密度、厚度相關，因此可以 ...瀏覽：983
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一、儀器名稱 ＊中文名稱： 場發射掃描式電子顯微鏡 ＊英文名稱：Field Emission Scanning Electron Microscope ＊英文簡稱：FE-SEM 二、儀器廠牌、型號、購置年限 廠牌： JEOL 型號：JSM-6700F 購置年限：2005年12月 三、重要規格...
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儀器購置年月：1987年7月(TEM)(2012年3月汰舊換新); 1989年9月(SEM) (2001 ......
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負 負責人：朱念南 分 機：401 E-Mail ： niann@pidc.gov.tw 儀器中文名稱 場發射 掃描式電子顯微鏡 儀器 英文名稱 ......
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掃描式電子顯微鏡∕ 能量分散光譜儀 SCANNING ELECTRON MICROSCOPE∕ ENERGY DISPERSIVE SPECTROMETER 儀器中文名稱： ......
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儀器代碼 C-06 中文名稱 掃描式電子顯微鏡 S-3400N 英文名稱 SEM 儀器經費來源 購入日期 2014/3/18 儀器位置 森林系二館二樓 植物分類暨生態研究室 ......
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