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場發射掃描式電子顯微鏡(FE-SEM) - 國立中興大學材料科學與工程學系
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日期：2025-06-01
2013年1月18日 ... 用途, 場發射掃描式電子顯微鏡可觀察物體之微結構，由於高電場所發射之電子束徑
小，亮度高，具有傳統掃描式電子顯微鏡所明顯不及之高解析度， ......看更多
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