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場發射掃瞄式電子顯微鏡 - 中原大學

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日期：2025-06-18
FE-SEM. 英文名稱. Field Emission Scanning Electron Microscope. 功能說明. 利用 加負壓於金屬尖端上，以強電場將電子吸出尖端而形成很微小的電子束，在極高的 ......看更多

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