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MOS結構的電容-電壓曲線之量測與應用__國立清華大學博碩士論文全文影像系統
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日期：2025-05-06
MOS結構的電容- 電壓曲線之量測與應用 論文名稱(外文): Capacitance-Voltage Curve of MOS Structure: Measurement and Application ... 另外，我們搭配生命週期的量測，計算表面再結合速率，與C-V所得到表面再結合速率作比較，可以用來判斷表面鈍化的基礎 ......看更多
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