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SILICON Probe Card Lift Time 实验计画_百度文库
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日期：2025-05-01
原因為probe card扎到異物導致探針永久損壞。為了真正了解此種Probe Card的
耐用情形，TOHO再次提供一片Probe Card供實驗用途。( 此片Probe Card為
NT3992 ......看更多
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