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![場發射掃描式電子顯微鏡 - 中興大學]()
www.google.com.tw冷場發射掃描式電子顯微鏡Field Emission Scanning Electron Microscopy(FE- SEM). 聯絡方式. 設備特性(分析項目). 試片準備方式. 收費標準. 台灣大學—理學院.瀏覽：994 -
![閎康科技股份有限公司 > 超音波掃瞄檢測(SAT)]()
www.ma-tek.com其檢測的基本原理為利用超音波發射源 (Probe) 透過純水為介質而傳導到待測試片上，經由超音波的反射或穿透等的作用，將此訊號經機台特定軟體處理成像。而 Probe的選用會因為試片的厚度與材質而有所不同類型的選擇。瀏覽：332
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日期：2025-05-10
本儀器訂於3/2(一)上午9:00開放3月份預約。實驗完成日請填選3月，跨月選取者一律取消預約。上網預約後請盡快傳真或e-mail申請表(最晚在7日內傳真)給技術員以便安排測量時間。有任何問題請和技術員連繫(03-5715131轉33432)。...
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日期：2025-05-09
2013年1月18日 ... 用途, 場發射掃描式電子顯微鏡可觀察物體之微結構，由於高電場所發射之電子束徑
小，亮度高，具有傳統掃描式電子顯微鏡所明顯不及之高解析度， ......
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