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![場發射掃描穿透式球差修正電子顯微鏡(ULTRA－HRTEM)]()
www.nscric.nthu.edu.tw儀器中文名稱：場發射掃描穿透式球差修正電子顯微鏡 http://www.nscric.nthu.edu.tw/EM/ 儀器英文名稱：Spherical-aberration Corrected Field Emission ...瀏覽：369 -
![::: 國立中央大學 - 研究發展處 :::]()
www.ncu.edu.tw1. LV-SEM主體：在一般及低真空下 ( 1-270 pa ) 對表面及立體結構之觀察及照相 2. 鍍金 ( 碳 ) 機：在樣品表面鍍導電金膜碳膜 3. EDS 系統：分析樣品之元素 ( B-U ) 4. EBSD 系統：決定樣品中小區域晶體結構 5. 冷凍樣品座：快速冷凍樣品及 in-situ 鍍膜用瀏覽：426
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場發射穿透式電子顯微鏡(FE-TEM)主要規格 1.場發射穿透式電子顯微鏡(FE-TEM) ‧加速電壓：200KV ‧放大倍率：X 50 to 1500K ‧解像度：Point Resoltion：≦0.23nm；Lattice Resoltion：≦0.1nm ‧聚焦束繞射(CBED)：Convergent Angle：1.5~20 mrad...
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