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場發射式掃瞄式電子顯微鏡簡介 - 2

場發射式掃瞄式電子顯微鏡簡介 - 2

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日期：2025-10-07
關鍵詞：場發射式掃瞄式電子顯微鏡、 FESEM 、材料微結構分析. SEM 之發展與工作原理. 電子顯微鏡的發展，最早在1931 年首. 先發展穿透式電子顯微鏡(TEM;....看更多

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