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![半導體科技新聞 - IC測試之發展趨勢 - Semicondutor News, Science and Technology]()
ssttpro.acesuppliers.com最早期的(約10年前)有四至五家公司(都在美國)在研發薄膜針測卡(Membrane Probe Card)以便取代傳統的探針卡(Needle Probe Card) 。10幾年前那時是用來測剛剛研發成功之GaAs Technology IC Chip，因薄膜針測卡可測高頻之故。瀏覽：1277 -
![cp测试中如何避免probe card烧针? - Cp & Final Test[量产测试] - 半导 ...]()
www.google.com.tw从成本上考虑的话，从材料上改善是不太现实，那得重新做CARD或换针。6 h' G F4 t o, _ P2 \ 从程序上改善可的话，可以考虑分流大电流再测试是否 ...瀏覽：738
![cp测试中如何避免probe card烧针? - Cp & Final Test[量产测试] - 半导 ...](https://www.iarticlesnet.com/pub/img/site/s_39.jpeg)
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probe card 燒針的相關商品
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日期：2024-05-15
2012年2月23日 ... 為了在設計開發階段，即能瞭解微探針的「跪針」與「燒針」過程與成因，本研究提出三
年期的 ... Probe card is an critical instrument in wafer probing....
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日期：2024-05-15
探針卡在晶圓測試的積體電路中擔當一個重要的角色即是作為連接晶圓表面的金屬
... 上傳統探針卡已面臨測試極限，由於傳統懸臂式探針卡(cantilever probe card) ......
瀏覽：630
日期：2024-05-13
微/奈米製造技術專輯. │. │ 2009.09 │3. 關鍵詞. ‧探針卡probe card. ‧導電膜
conductive film. ‧微機電MEMS. 摘要. 探針卡是應用在積體電路(IC)尚未切割、封裝....
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日期：2024-05-16
半導體IC測試基本名詞介紹. • Probe Card:針測板. • Socket:IC測試時承載之基座. •
Bin:IC分類之稱呼. • Change Kit:變異製具. • Lead Scan:掃腳機. • Ball Scan:掃球機....
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日期：2024-05-12
本文主要是研究預燒製程的探針卡，預燒測試的目的是為了將失敗率高的產品先行 ...
The Study of Probe Marks and Deformation of Needles of Wafer Probe Card at ......
![cp测试中如何避免probe card烧针? - Cp & Final Test[量产测试] - 半导 ...](https://www.iarticlesnet.com/pub/img/site/s_41.jpeg)
瀏覽：398
日期：2024-05-13
錸鎢(97% Tungsten, 3% Rhenium) 針：6 B& M- z, J0 ?' A2 I" w" J 優點：硬度/抗勞
性佳，穩定度佳適合長時間測試。& N$ _, k( f& B p( ]: y 缺點：接觸 ......
瀏覽：1228
日期：2024-05-14
从成本上考虑的话，从材料上改善是不太现实，那得重新做CARD或换针。 .... 项目的
测试；就算有多根针分流，如果某几根针脏了，还是有可能烧针。...
瀏覽：1031
日期：2024-05-18
針卡之探針與晶圓特定銲墊接觸，才能量得電路的電性，進而判. 斷出晶粒的好壞 ...
Keywords: wafer testing; probe card; overdrive; contact resistance; finite element....
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