宜特科技| 原子力顯微鏡(AFM) - iST

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日期:2025-05-11
原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope, AFM)屬於掃描探針顯微技術(Scanning Probe Microscopy , SPM)的一種。AFM具有原子級解析力,其探針大多由矽製成, ......看更多